Warszawa: Dostawa urządzenia pomiarowego do pomiaru parametrów fotoelektrycznych struktur półprzewodnikowych - analizator przyrządów półprzewodnikowych


Numer ogłoszenia: 173790 - 2011; data zamieszczenia: 27.06.2011

OGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU - dostawy


Zamieszczanie ogłoszenia:
obowiązkowe.


Ogłoszenie dotyczy:
zamówienia publicznego.

SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY


I. 1) NAZWA I ADRES:
Instytut Technologii Elektronowej , Al. Lotników 32/46, 02-668 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 022 5487700, faks 022 8470631.


  • Adres strony internetowej zamawiającego:
    www.ite.waw.pl


I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
Podmiot prawa publicznego.

SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA


II.1) OKREŚLENIE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA


II.1.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Dostawa urządzenia pomiarowego do pomiaru parametrów fotoelektrycznych struktur półprzewodnikowych - analizator przyrządów półprzewodnikowych.


II.1.2) Rodzaj zamówienia:
dostawy.


II.1.3) Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest dostawa fabrycznie nowego urządzenia pomiarowego do pomiaru parametrów fotoelektrycznych struktur półprzewodnikowych - analizator przyrządów półprzewodnikowych.


II.1.4) Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających:
nie.


II.1.5) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
38.54.00.00-2.


II.1.6) Czy dopuszcza się złożenie oferty częściowej:
nie.


II.1.7) Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej:
nie.



II.2) CZAS TRWANIA ZAMÓWIENIA LUB TERMIN WYKONANIA:
Okres w dniach: 126.

SEKCJA III: INFORMACJE O CHARAKTERZE PRAWNYM, EKONOMICZNYM, FINANSOWYM I TECHNICZNYM


III.2) ZALICZKI


  • Czy przewiduje się udzielenie zaliczek na poczet wykonania zamówienia:
    nie


III.3) WARUNKI UDZIAŁU W POSTĘPOWANIU ORAZ OPIS SPOSOBU DOKONYWANIA OCENY SPEŁNIANIA TYCH WARUNKÓW


  • III.3.2) Wiedza i doświadczenie


    Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunku

    • Wykaz dostaw - wykażą, że w okresie ostatnich trzech lat przed upływem terminu składania ofert, a jeżeli okres prowadzenia działalności jest krótszy - w tym okresie, wykonali co najmniej 2 dostawy urządzeń do pomiaru parametrów fotoelektrycznych struktur półprzewodnikowych - analizatorów struktur półprzewodnikowych z podaniem ich wartości, przedmiotu, dat wykonania i odbiorców oraz załączeniem dokumentu potwierdzającego, że te dostawy zostały wykonane należycie. Ocena spełniania ww. warunku zostanie dokonana według formuły spełnia - nie spełnia


III.4) INFORMACJA O OŚWIADCZENIACH LUB DOKUMENTACH, JAKIE MAJĄ DOSTARCZYĆ WYKONAWCY W CELU POTWIERDZENIA SPEŁNIANIA WARUNKÓW UDZIAŁU W POSTĘPOWANIU ORAZ NIEPODLEGANIA WYKLUCZENIU NA PODSTAWIE ART. 24 UST. 1 USTAWY


  • III.4.1) W zakresie wykazania spełniania przez wykonawcę warunków, o których mowa w art. 22 ust. 1 ustawy, oprócz oświadczenia o spełnieniu warunków udziału w postępowaniu, należy przedłożyć:

    • wykaz wykonanych, a w przypadku świadczeń okresowych lub ciągłych również wykonywanych, dostaw lub usług w zakresie niezbędnym do wykazania spełniania warunku wiedzy i doświadczenia w okresie ostatnich trzech lat przed upływem terminu składania ofert albo wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu, a jeżeli okres prowadzenia działalności jest krótszy - w tym okresie, z podaniem ich wartości, przedmiotu, dat wykonania i odbiorców, oraz załączeniem dokumentu potwierdzającego, że te dostawy lub usługi zostały wykonane lub są wykonywane należycie

  • III.4.2) W zakresie potwierdzenia niepodlegania wykluczeniu na podstawie art. 24 ust. 1 ustawy, należy przedłożyć:


    III.7) Czy ogranicza się możliwość ubiegania się o zamówienie publiczne tylko dla wykonawców, u których ponad 50 % pracowników stanowią osoby niepełnosprawne:
    nie

    SEKCJA IV: PROCEDURA


    IV.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA


    IV.1.1) Tryb udzielenia zamówienia:
    przetarg nieograniczony.


    IV.2) KRYTERIA OCENY OFERT


    IV.2.1) Kryteria oceny ofert:
    najniższa cena.


    IV.2.2) Czy przeprowadzona będzie aukcja elektroniczna:
    nie.


    IV.3) ZMIANA UMOWY


    Czy przewiduje się istotne zmiany postanowień zawartej umowy w stosunku do treści oferty, na podstawie której dokonano wyboru wykonawcy:
    nie


    IV.4) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE


    IV.4.1)
     
    Adres strony internetowej, na której jest dostępna specyfikacja istotnych warunków zamówienia:
    www.ite.waw.pl

    Specyfikację istotnych warunków zamówienia można uzyskać pod adresem:
    Instytut Technologii Elektronowej, Al. Lotników 32/46, 02-668 Warszawa, budynek nr VI, pokój 216.


    IV.4.4) Termin składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu lub ofert:
    07.07.2011 godzina 10:00, miejsce: Instytut Technologii Elektronowej, Al. Lotników 32/46, 02-668 Warszawa, budynek nr VI, pokój 216.


    IV.4.5) Termin związania ofertą:
    okres w dniach: 30 (od ostatecznego terminu składania ofert).


    IV.4.17) Czy przewiduje się unieważnienie postępowania o udzielenie zamówienia, w przypadku nieprzyznania środków pochodzących z budżetu Unii Europejskiej oraz niepodlegających zwrotowi środków z pomocy udzielonej przez państwa członkowskie Europejskiego Porozumienia o Wolnym Handlu (EFTA), które miały być przeznaczone na sfinansowanie całości lub części zamówienia:
    nie


    Warszawa: Dostawa urządzenia pomiarowego do pomiaru parametrów fotoelektrycznych struktur półprzewodnikowych - analizator przyrządów półprzewodnikowych


    Numer ogłoszenia: 206678 - 2011; data zamieszczenia: 19.07.2011

    OGŁOSZENIE O UDZIELENIU ZAMÓWIENIA - Dostawy


    Zamieszczanie ogłoszenia:
    obowiązkowe.


    Ogłoszenie dotyczy:
    zamówienia publicznego.


    Czy zamówienie było przedmiotem ogłoszenia w Biuletynie Zamówień Publicznych:
    tak, numer ogłoszenia w BZP: 173790 - 2011r.


    Czy w Biuletynie Zamówień Publicznych zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie ogłoszenia:
    nie.

    SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY


    I. 1) NAZWA I ADRES:
    Instytut Technologii Elektronowej, Al. Lotników 32/46, 02-668 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 022 5487700, faks 022 8470631.


    I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
    Podmiot prawa publicznego.

    SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA


    II.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
    Dostawa urządzenia pomiarowego do pomiaru parametrów fotoelektrycznych struktur półprzewodnikowych - analizator przyrządów półprzewodnikowych.


    II.2) Rodzaj zamówienia:
    Dostawy.


    II.3) Określenie przedmiotu zamówienia:
    Przedmiotem zamówienia jest dostawa fabrycznie nowego urządzenia pomiarowego do pomiaru parametrów fotoelektrycznych struktur półprzewodnikowych - analizator przyrządów półprzewodnikowych.


    II.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
    38.54.00.00-2.

    SEKCJA III: PROCEDURA


    III.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
    Przetarg nieograniczony


    III.2) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE


    • Zamówienie dotyczy projektu/programu finansowanego ze środków Unii Europejskiej:
      nie

    SEKCJA IV: UDZIELENIE ZAMÓWIENIA


    IV.1) DATA UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
    18.07.2011.


    IV.2) LICZBA OTRZYMANYCH OFERT:
    1.


    IV.3) LICZBA ODRZUCONYCH OFERT:
    0.


    IV.4) NAZWA I ADRES WYKONAWCY, KTÓREMU UDZIELONO ZAMÓWIENIA:

    • AM Technologies Polska Sp. z o.o., {Dane ukryte}, 02-305 Warszawa, kraj/woj. mazowieckie.


    IV.5) Szacunkowa wartość zamówienia
    (bez VAT): 405000,00 PLN.


    IV.6) INFORMACJA O CENIE WYBRANEJ OFERTY ORAZ O OFERTACH Z NAJNIŻSZĄ I NAJWYŻSZĄ CENĄ


    • Cena wybranej oferty:
      477743,07


    • Oferta z najniższą ceną:
      477743,07
      / Oferta z najwyższą ceną:
      477743,07


    • Waluta:
      PLN.

    Adres: Al. Lotników 32/46, 02-668 Warszawa
    woj. mazowieckie
    Dane kontaktowe: email: azygler@ite.waw.pl
    tel: 225 487 700
    fax: -
    Termin składania wniosków lub ofert:
    2011-07-06
    Dane postępowania
    ID postępowania BZP/TED: 17379020110
    ID postępowania Zamawiającego:
    Data publikacji zamówienia: 2011-06-26
    Rodzaj zamówienia: dostawy
    Tryb& postępowania [PN]: Przetarg nieograniczony
    Czas na realizację: 126 dni
    Wadium: -
    Oferty uzupełniające: NIE
    Oferty częściowe: NIE
    Oferty wariantowe: NIE
    Przewidywana licyctacja: NIE
    Ilość części: 1
    Kryterium ceny: 100%
    WWW ogłoszenia: www.ite.waw.pl
    Informacja dostępna pod: Instytut Technologii Elektronowej, Al. Lotników 32/46, 02-668 Warszawa, budynek nr VI, pokój 216
    Okres związania ofertą: 30 dni
    Kody CPV
    38540000-2 Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa
    Wyniki
    Nazwa części Wykonawca Data udzielenia Wartość
    Dostawa urządzenia pomiarowego do pomiaru parametrów fotoelektrycznych struktur półprzewodnikowych - analizator przyrządów półprzewodnikowych AM Technologies Polska Sp. z o.o.
    Warszawa
    2011-07-19 477 743,00