Dodatkowe wyposażenie skaningowego mikroskopu elektronowego FEI Nova 450 NanoSEM
Opis przedmiotu przetargu: Dostawa, instalacja, uruchomienie i przetestowanie dodatkowego wyposażenia i oprogramowania skaningowego mikroskopu elektronowego FEI Nova 450 NanoSEM. 1. Podkolumnowy niskopróżniowy detektor elektronów wtórnych Niskopróżniowy detektor elektronów wtórnych umożliwiający uzyskiwanie odwzorowania preparatów w warunkach niskiej próżni z soczewką obiektywu pracującą w trybie immersyjnym. Przy pomocy tego detektora, montowanego pod soczewką końcową powinna być możliwa ultra-wysokorozdzielcza rejestracja obrazów próbek nieprzewodzących lub szybko zanieczyszczających się. 2. Detektor niskopróżniowy pierścieniowy Detektor elektronów wstecznie rozproszonych zoptymalizowany do pracy w trybie niskiej próżni, redukujący efekt rozpraszania się wiązki elektronowej w środowisku gazu roboczego (tzw. zjawisko (beam skirt) oraz umożliwiający precyzyjną analizę EDX w niskiej próżni. 3. Zintegrowany z mikroskopem SEM system do czyszczenia powierzchni próbek. Urządzenie zintegrowane z komora mikroskopu SEM. Przeznaczone do czyszczenia powierzchni preparatu plazmą niskoenergetyczną w celu usunięcia zanieczyszczeń węglowodorowych przy wysokorozdzielczym obrazowaniu preparatu. Urządzenie sterowane z poziomu oprogramowania mikroskopu. 4. Oprogramowanie do łatwiej nawigacji po powierzchni preparatu Specjalistyczne oprogramowanie współpracujące z mikroskopami SEM, pozwalające operatorowi mikroskopu na poruszanie się w obszarze stolika z badanym preparatem przy użyciu zdjęcia tego stolika zaimportowanego z zewnętrznego źródła takiego jak np. mikroskop optyczny. Dodatkowo oprogramowanie powinno umożliwiać tworzenia wysokorozdzielczej wielkoformatowej (złożonej z poszczególnych segmentów) mapy elektronowej danego obszaru oglądanego preparatu, z możliwością zapisania takiego zdjęcia w pliku na dysku komputera. 5. Konsola sterująca do mikroskopu SEM Nova 450 NanoSEM. Panel do manualnego sterowania parametrami mikroskopu FEI Nova 450 NanoSEM, takimi jak: ustawianie ostrości, powiększenie, kontrast, jasność, przesuwanie wiązki i korekcja astygmatyzmu.
Dane postępowania
| ID postępowania BZP/TED: | 4947220120 |
|---|---|
| ID postępowania Zamawiającego: | |
| Data publikacji zamówienia: | 2012-02-20 |
| Rodzaj zamówienia: | dostawy |
| Tryb& postępowania [PN]: | Przetarg nieograniczony |
| Czas na realizację: | 4 miesięcy |
| Wadium: | - |
| Oferty uzupełniające: | NIE |
| Oferty częściowe: | NIE |
| Oferty wariantowe: | NIE |
| Przewidywana licyctacja: | NIE |
| Ilość części: | 1 |
| Kryterium ceny: | 100% |
| WWW ogłoszenia: | www.ichf.edu.pl |
| Informacja dostępna pod: | Instytut Chemii Fizycznej PAN 01-224 Warszawa ul. Kasprzaka 44/52 pokój nr 36 |
| Okres związania ofertą: | 30 dni |
Kody CPV
| 38511100-1 | Skanujące mikroskopy elektronowe |
