Układ do precyzyjnego wytrawiania powierzchni oraz napylania ciężkich warstw

ROZWIŃ

Opis przedmiotu przetargu: Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja, uruchomienie i przetestowanie poprzez wykonanie testowych próbek zgodnych z zaleceniami Zamawiającego, fabrycznie nowego urządzenia bazującego się na metodzie napylania za pomocą wiązek jonowych (ion beam) dedykowanego do zastosowań w mikroskopiach FESEM, TEM oraz mikroskopii optycznej o parametrach technicznych wymienionych w specyfikacji istotnych warunków zamówienia.

Publikacja BZP / TED

Brak pliku (39284_2014.html) ogłoszenia! ERROR: 002

Brak pliku ogłoszenia! 4

Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk

Adres:	ul. Kasprzaka 44/52, 01-224 Warszawa woj. mazowieckie

Dane kontaktowe:	email: epawelczyk@ichf.edu.pl, abernatek@ichf.edu.pl tel: 22 3433151 fax: 22 3433333

Termin składania wniosków lub ofert:

2014-02-18

Dane postępowania

ID postępowania BZP/TED:	3928420140
ID postępowania Zamawiającego:
Data publikacji zamówienia:	2014-02-04
Rodzaj zamówienia:	dostawy
Tryb& postępowania [PN]:	Przetarg nieograniczony
Czas na realizację:	4 miesięcy
Wadium:	-
Oferty uzupełniające:	NIE
Oferty częściowe:	NIE
Oferty wariantowe:	NIE
Przewidywana licyctacja:	NIE
Ilość części:	1
Kryterium ceny:	90%
WWW ogłoszenia:	www.ichf.edu.pl
Informacja dostępna pod:	Instytut Chemii Fizycznej PAN ul. Kasprzaka 44/52 01-224 Warszawa pokój nr 36
Okres związania ofertą:	30 dni

Kody CPV

	38540000-2	Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa