Dostawa stanowiska do pomiaru ostrzowego charakterystyk elektrycznych struktur półprzewodnikowych WEiTI/112/BZP/2013/1035. - polska-warszawa: aparatura kontrolna i badawcza
ROZWIŃ

Opis przedmiotu przetargu: przedmiotem zamówienia jest dostawa stanowiska do pomiaru ostrzowego charakterystyk elektrycznych struktur półprzewodnikowych, w ramach projektu pbs ncibr. wymagania dotyczące przedmiotu zamówienia — urządzenie musi być produktem wysokiej jakości, wolne od wad materiałowych i prawnych. — urządzenie musi być oznakowane w taki sposób, aby możliwa była identyfikacja zarówno produktu jak i producenta. — dostarczone urządzenie musi zawierać pełną dokumentację techniczną i instrukcję obsługi w języku polskim lub angielskim. — urządzenie musi spełniać wymagania wynikające z przepisów bezpieczeństwa i higieny pracy. ii.1.6)

Publikacja BZP / TED
Brak pliku ogłoszenia! 1
Brak pliku ogłoszenia! 5

Politechnika Warszawska

Adres: Pl. Politechniki 1, 00-661 Warszawa
woj. mazowieckie
Dane kontaktowe: email: Anna.Poreda@pw.edu.pl
tel: +48222346206
fax: +48226286075
Termin składania wniosków lub ofert:
2013-12-04
Dane postępowania

ID postępowania BZP/TED: 35989220131
ID postępowania Zamawiającego:
Data publikacji zamówienia: 2013-10-25
Rodzaj zamówienia: dostawy
Tryb& postępowania [PN]: Przetarg nieograniczony
Czas na realizację: -
Wadium: 4000 ZŁ
Szacowana wartość* 133 333 PLN  -  200 000 PLN
Oferty uzupełniające: NIE
Oferty częściowe: NIE
Oferty wariantowe: NIE
Przewidywana licyctacja: NIE
Ilość części: 0
Kryterium ceny: 100%
WWW ogłoszenia: http://www.pw.edu.pl
Informacja dostępna pod: Politechnika Warszawska
Wołoska 141, Warszawa, woj. Polska
Dokumentacja dostępna na wniosek. Termin składania wniosków o dokumentację: 04/12/2013
Okres związania ofertą: 60 dni
Kody CPV
38500000-0 Aparatura kontrolna i badawcza
38900000-4 Różne przyrządy do badań lub testowania
Wyniki
Nazwa części Wykonawca Data udzielenia Wartość
Pakiet nr XIV Andrzej Wiśniewski Comef Aparatura Naukowo-Badawcza
Katowice		 2013-12-23 380 000,00
ukryj