Dostawa przenośnego spektrometru fluorescencji rentgenowskiej (XRF) do aplikacji w konserwacji zabytków i archeologii wraz z oprogramowaniem i oprzyrządowaniem

Opis przedmiotu przetargu: Przedmiotem zamówienia jest dostawa przenośnego spektrometru fluorescencji rentgenowskiej (XRF) do aplikacji w konserwacji zabytków i archeologii. Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej XRF - urządzenie podstawowe do analizy jakościowej i ilościowej pozwalającej określić stężenie pierwiastków w badanym materiale. Urządzenie pozwala na badanie większości materiałów, z których wykonane są zabytki archeologiczne. Mimo, że najczęściej stosowane do analizy metalu, pozwala również na analizę materiału ceramicznego, minerałów i gleby, oraz na identyfikację pigmentów/barwników w tkaninach archeologicznych. Minimalne wymagania techniczno - użytkowe urządzenia:  możliwość wykonywania obróbki widm spektralnych w konserwacji zabytków i archeologii i nakładania wielu widm (przynajmniej 100),  możliwość wykonania Bayesowskiej dekonwolucji widma, która ma znaczenie przy analizie półilościowej, obliczaniu zliczeń netto, a przede wszystkim do identyfikacji i lub weryfikacji obecności pierwiastków śladowych,  zasilanie 50 kV, anoda rodowa i cienkie okno, nominalna moc lampy 4W, zakres stosowanego napięcia 15-50 kV,  detektor SDD o wysokiej wydajności i precyzji odczytów, z zakresem analizowanych pierwiastków Mg-U, z zabezpieczeniem – osłoną detektora przed mechanicznym uszkodzeniem,  automatyczny zmieniacz filtrów wiązki pierwotnej z co najmniej 4 filtrami fabrycznie wbudowanymi,  ostre profilowanie drogi wiązki optycznej w celu osiągnięcia najlepszej wydajności przy najniższych wartościach parametrów zasilania,  wielkość plamki min. 5mm,  ekran dotykowy o wysokiej jasności i kontraście,  łączność Bluetooth i USB,  min. 4 GB pamięć USB do przechowywania danych i łatwiejszego raportowania,  2 wydajne akumulatory litowo – jonowe właz z ładowarką w cenie urządzenia,  oprogramowanie dodatkowe: pakiet kalibracji dla badania metali z uwzględnieniem metali lekkich, zawierające typowe kalibracje dla: stale nierdzewne, stale narzędziowe, stale niskostopowe, stopy niklu, stopy kobaltu, stopy miedzi, stopy cynku, stopy lekkie (Al, Mg i Ti) i ogólne kalibracje dla innych rodzaju stopów, wraz próbką kontrolną stali,  oprogramowanie dodatkowe: pakiet kalibracji dla badania stopów metali szlachetnych w zakresie Ti – Bi (stopy Au, Ag, Pd, Pt),  kamera VGA z podświetlaczem, pozwalająca na wizualizację miejsca analizy,  wytrzymała obudowa urządzenia klasy przemysłowej o stopniu ochrony co najmniej IP 54 z zabezpieczeniami ochronnymi i antypoślizgowym uchwytem,  wyczerpująca instrukcja obsługi w języku polskim i angielskim, film instruktażowy dotyczący bezpiecznego stosowania urządzenia,  statyw nastołowy, zmieniający ręczny spektrometr XRF w urządzenie laboratoryjne, istotny przy analizie niewielkich zabytków i próbek sypkich,  płytka kreowania tła - akcesorium potrzebne do badania niewielkich zabytków w warunkach używania spektrometru bez statywu,  równoważąca ciśnienie, wodoodporna walizka transportowa w cenie urządzenia.