Materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam)

Opis przedmiotu przetargu: Przedmiotem zamówienia są materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam): stolik do mocowania próbek (9 szt.); IM4000 adapter do SEM (1 szt); Maski tytanowe (5 szt/1op); Anoda (1 szt.); Katoda A (1 szt.); Katoda B (1 szt.); Izolator (1 szt.); Anoda PIN (1 szt.); Podstawa HV PIN (1 szt.); Proszek WCO6 (50 g w opakowaniu - 1 szt.); Igły do mikroskopu (1 szt.)