DOSTAWA STACJI DO POMIARÓW PARAMETRÓW OPTYCZNYCH I ELEKTRYCZNYCH MATERIAŁÓW I PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH W SZEROKIM ZAKRESIE PRECYZYJNIE KONTROLOWANYCH TEMPERATUR (DELIVERY OF VARIABLE TEMPERATURE MICROPROBE SYSTEM TO PROVIDE OPTICAL AND ELECTRICAL MEASURMENTS OF SEMICONDUCTOR MATERIALS AND DEVICES)
ROZWIŃ
Opis przedmiotu przetargu: Przedmiotem zamówienia jest dostawa stacji do pomiarów parametrów optycznych i elektrycznych materiałów i przyrządów półprzewodnikowych w szerokim zakresie precyzyjnie kontrolowanych temperatur (Delivery of variable temperature microprobe system to provide optical and electrical measurments of semiconductor materials and devices) Wszystkie parametry szczegółowo opisane w załączniku nr 3 do SIWZ.
Termin składania wniosków lub ofert:
2013-09-03
Dane postępowania
| ID postępowania BZP/TED: | 34126620130 |
|---|---|
| ID postępowania Zamawiającego: | |
| Data publikacji zamówienia: | 2013-08-23 |
| Rodzaj zamówienia: | dostawy |
| Tryb& postępowania [PN]: | Przetarg nieograniczony |
| Czas na realizację: | 98 dni |
| Wadium: | - |
| Oferty uzupełniające: | NIE |
| Oferty częściowe: | NIE |
| Oferty wariantowe: | NIE |
| Przewidywana licyctacja: | NIE |
| Ilość części: | 1 |
| Kryterium ceny: | 100% |
| WWW ogłoszenia: | www.wat.edu.pl |
| Informacja dostępna pod: | WOJSKOWA AKADEMIA TECHNICZNA im. Jarosława Dąbrowskiego ul. Gen. Sylwestra Kaliskiego 2 00-908 WARSZAWA Sekcja Zamówień Publicznych, budynek nr 22, pokój nr 6, godz. 08:00-15:00. |
| Okres związania ofertą: | 30 dni |
Kody CPV
| 38540000-2 | Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowa |