Sprzedaż i dostarczenie kompletnego systemu pomiarowego służącego do charakteryzacji warstw epitaksjalnych oraz warunków termicznych w reaktorze w trakcie procesu osadzania wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych przy ul. Wólczyńskiej 133 w Warszawie. - pl-warszawa: systemy rejestrujące i urządzenia badawcze
Opis przedmiotu przetargu: przedmiotem niniejszego zamówienia jest dostawa (rozumiana jako sprzedaż, dostarczenie, montaż w siedzibie zamawiającego oraz przeszkolenie personelu badawczego) kompletnego systemu pomiarowego służącego do charakteryzacji warstw epitaksjalnych oraz warunków termicznych w reaktorze w trakcie procesu osadzania (nazywany dalej „systemem in situ”) w urządzeniu aix 200/4rf s (#200010) z reaktorem poziomym (1x2” podłoże), służącym do epitaksji materiałów iii n metodą movpe oraz pozostałych komponentów wchodzących w skład przedmiotu zamówienia, dla instytutu technologii materiałów elektronicznych przy ul. wólczyńskiej 133 w warszawie. system pomiarowy wraz z wyposażeniem musi spełniać wymagania określone w „szczegółowej charakterystyce przedmiotu zamówienia” stanowiącej załącznik nr 1 do specyfikacji. ii.1.6)
Dane postępowania
| ID postępowania BZP/TED: | 5456120111 |
|---|---|
| ID postępowania Zamawiającego: | |
| Data publikacji zamówienia: | 2011-02-17 |
| Rodzaj zamówienia: | dostawy |
| Tryb& postępowania [PN]: | Przetarg nieograniczony |
| Czas na realizację: | 60 dni |
| Wadium: | - |
| Oferty uzupełniające: | NIE |
| Oferty częściowe: | NIE |
| Oferty wariantowe: | NIE |
| Przewidywana licyctacja: | NIE |
| Ilość części: | 0 |
| Kryterium ceny: | 70% |
| WWW ogłoszenia: | http://www.itme.edu.pl |
| Informacja dostępna pod: | Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych ul. Wólczyńska 133, 01-919 Warszawa, woj. mazowieckie |
| Okres związania ofertą: | 30 dni |
Kody CPV
| 33120000-7 | Systemy rejestrujące i urządzenia badawcze |
