Kontrakt serwisowy (12 miesięczny) obejmujący zainstalowane na AGH mikroskopy elektronowe firmy FEI: Nova Nano SEM 200 (D8090), Nova Nano SEM 450 (9921038), Inspect S (9921048), Tecnai G2 20 TWIN (D2125), Quanta 200 FEG (D8049), Tecnai F20 (9921043), Quanta 3D 200i (9921055), Versa 3D FEG (9921056) - Kc-zp.272-306/18.
ROZWIŃ
Opis przedmiotu przetargu: Kontrakt serwisowy (12 miesięczny) obejmujący zainstalowane na AGH mikroskopy elektronowe firmy FEI: Nova Nano SEM 200 (D8090), Nova Nano SEM 450 (9921038), Inspect S (9921048), Tecnai G2 20 TWIN (D2125), Quanta 200 FEG (D8049), Tecnai F20 (9921043), Quanta 3D 200i (9921055), Versa 3D FEG (9921056) - Kc-zp.272-306/18.

Brak pliku (579312_2018.html) ogłoszenia! ERROR: 002
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Brak pliku ogłoszenia! 4
Termin składania wniosków lub ofert:
2018-07-04
Dane postępowania
ID postępowania BZP/TED: | 579312-N-2018 |
---|---|
ID postępowania Zamawiającego: | Kc-zp.272-306/18 |
Data publikacji zamówienia: | 2018-06-26 |
Rodzaj zamówienia: | usługi |
Tryb& postępowania [PN]: | Przetarg nieograniczony |
Czas na realizację: | 12 miesięcy |
Wadium: | - |
Oferty uzupełniające: | NIE |
Oferty częściowe: | NIE |
Oferty wariantowe: | NIE |
Przewidywana licyctacja: | NIE |
Ilość części: | 1 |
Kryterium ceny: | 60% |
WWW ogłoszenia: | www.dzp.agh.edu.pl |
Informacja dostępna pod: | www.dzp.agh.edu.pl |
Okres związania ofertą: | 30 dni |
Kody CPV
50411000-9 | Usługi w zakresie napraw i konserwacji aparatury pomiarowej |