Dostawa układu pomiarowego do charakteryzacji wyświetlaczy 2D/3D Postępowanie nr WEITI/75/BZP/2014/1030

Opis przedmiotu przetargu: Przedmiotem zamówienia jest dostawa układu pomiarowego do charakteryzacji wyświetlaczy 2D/3D - system do badań jakości obrazu. Wymagania dotyczące przedmiotu zamówienia: - Urządzenia muszą być produktami nowymi, bez śladów użytkowania, wolne od wad materiałowych i prawnych. - Urządzenia muszą być oznakowane w taki sposób, aby możliwa była identyfikacja zarówno produktu jak i producenta. - Dostarczone urządzenia muszą zawierać wszystkie niezbędne elementy umożliwiające rozpoczęcie pracy takie jak oprogramowanie, sterowniki, kable, itp. Szczegółowe określenie zakresu gwarancji i serwisu oraz pełen opis techniczny dla przedmiotu zamówienia zawarte są w załączniku nr 3 do Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia - Opis przedmiotu zamówienia. Przedmiot zamówienia powinien być dostarczony, zainstalowany i uruchomiony w siedzibie Użytkowników tj.: Politechnika Warszawska, Wydz. Elektroniki i Technik Informacyjnych, Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki, 00-665 Warszawa, ul. Nowowiejska 15/19, pokój 147