Źródło jonów GA do Mikroskopu Hitachi FiB-SEM NB5000

Warszawa: Źródło jonów GA do Mikroskopu Hitachi FiB-SEM NB5000


Numer ogłoszenia: 500260 - 2013; data zamieszczenia: 04.12.2013

OGŁOSZENIE O UDZIELENIU ZAMÓWIENIA - Dostawy

Zamieszczanie ogłoszenia:
obowiązkowe.

Ogłoszenie dotyczy:
zamówienia publicznego.

Czy zamówienie było przedmiotem ogłoszenia w Biuletynie Zamówień Publicznych:
tak, numer ogłoszenia w BZP: 472982 - 2013r.

Czy w Biuletynie Zamówień Publicznych zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie ogłoszenia:
nie.

SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY

I. 1) NAZWA I ADRES:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 22 2348729, 2348741, faks 22 2348514.

I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
Uczelnia publiczna.

SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA

II.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Źródło jonów GA do Mikroskopu Hitachi FiB-SEM NB5000.

II.2) Rodzaj zamówienia:
Dostawy.

II.3) Określenie przedmiotu zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest dostawa źródła jonów GA do Mikroskopu Hitachi FiB-SEM NB5000: źródło jonów GA oraz przesłona obiektywowa 0.03-0.03-0.05-0.05.

II.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
38.51.00.00-3.

SEKCJA III: PROCEDURA

III.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
Zamówienie z wolnej ręki

III.2) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE

• 
  Zamówienie dotyczy projektu/programu finansowanego ze środków Unii Europejskiej:
  tak, projekt/program: Zakup współfinansowany ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka z projektu: Nowe materiały konstrukcyjne o podwyższonej przewodności cieplnej, akronim: TERMET.

SEKCJA IV: UDZIELENIE ZAMÓWIENIA

IV.1) DATA UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
04.12.2013.

IV.2) LICZBA OTRZYMANYCH OFERT:
1.

IV.3) LICZBA ODRZUCONYCH OFERT:
0.

IV.4) NAZWA I ADRES WYKONAWCY, KTÓREMU UDZIELONO ZAMÓWIENIA:

• Andrzej Wiśniewski COMEF APARATURA NAUKOWO-BADAWCZA {Dane ukryte} 40-719 Katowice, {Dane ukryte}, 40-719 Katowice, kraj/woj. śląskie.

IV.5) Szacunkowa wartość zamówienia
(bez VAT): 41880,26 PLN.

IV.6) INFORMACJA O CENIE WYBRANEJ OFERTY ORAZ O OFERTACH Z NAJNIŻSZĄ I NAJWYŻSZĄ CENĄ

• 
  Cena wybranej oferty:
  12305,66

• 
  Oferta z najniższą ceną:
  12305,66
  / Oferta z najwyższą ceną:
  12305,66

• 
  Waluta:
  EUR.

ZAŁĄCZNIK I

Uzasadnienie udzielenia zamówienia w trybie negocjacji bez ogłoszenia, zamówienia z wolnej ręki albo zapytania o cenę

• 
  1. Podstawa prawna
  

  Postępowanie prowadzone jest w trybie zamówienie z wolnej ręki na podstawie art. 67 ust. 1 pkt 1 lit. a ustawy z dnia 29 stycznia 2004r. - Prawo zamówień publicznych.

• 
  2. Uzasadnienia wyboru trybu
  

  Należy podać uzasadnienie faktyczne i prawne wyboru trybu oraz wyjaśnić, dlaczego udzielenie zamówienia jest zgodne z przepisami.

  Zakup części zamiennych do unikatowej aparatury naukowo-badawczej, jedynej tego typu w kraju, może być oferowany tylko przez autoryzowany serwis producenta. Tylko taki przedstawiciel ma dostęp do specyfikacji technicznej unikatowych części produkowanych tylko do konkretnego urządzenia o ściśle określonych parametrach, znanych tylko przez producenta

Warszawa: Źródło jonów GA do Mikroskopu Hitachi FiB-SEM NB5000


Numer ogłoszenia: 500260 - 2013; data zamieszczenia: 04.12.2013

OGŁOSZENIE O UDZIELENIU ZAMÓWIENIA - Dostawy

Zamieszczanie ogłoszenia:
obowiązkowe.

Ogłoszenie dotyczy:
zamówienia publicznego.

Czy zamówienie było przedmiotem ogłoszenia w Biuletynie Zamówień Publicznych:
tak, numer ogłoszenia w BZP: 472982 - 2013r.

Czy w Biuletynie Zamówień Publicznych zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie ogłoszenia:
nie.

SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY

I. 1) NAZWA I ADRES:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 22 2348729, 2348741, faks 22 2348514.

I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
Uczelnia publiczna.

SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA

II.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Źródło jonów GA do Mikroskopu Hitachi FiB-SEM NB5000.

II.2) Rodzaj zamówienia:
Dostawy.

II.3) Określenie przedmiotu zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest dostawa źródła jonów GA do Mikroskopu Hitachi FiB-SEM NB5000: źródło jonów GA oraz przesłona obiektywowa 0.03-0.03-0.05-0.05.

II.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
38.51.00.00-3.

SEKCJA III: PROCEDURA

III.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
Zamówienie z wolnej ręki

III.2) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE

• 
  Zamówienie dotyczy projektu/programu finansowanego ze środków Unii Europejskiej:
  tak, projekt/program: Zakup współfinansowany ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka z projektu: Nowe materiały konstrukcyjne o podwyższonej przewodności cieplnej, akronim: TERMET.

SEKCJA IV: UDZIELENIE ZAMÓWIENIA

IV.1) DATA UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
04.12.2013.

IV.2) LICZBA OTRZYMANYCH OFERT:
1.

IV.3) LICZBA ODRZUCONYCH OFERT:
0.

IV.4) NAZWA I ADRES WYKONAWCY, KTÓREMU UDZIELONO ZAMÓWIENIA:

• Andrzej Wiśniewski COMEF APARATURA NAUKOWO-BADAWCZA {Dane ukryte} 40-719 Katowice, {Dane ukryte}, 40-719 Katowice, kraj/woj. śląskie.

IV.5) Szacunkowa wartość zamówienia
(bez VAT): 41880,26 PLN.

IV.6) INFORMACJA O CENIE WYBRANEJ OFERTY ORAZ O OFERTACH Z NAJNIŻSZĄ I NAJWYŻSZĄ CENĄ

• 
  Cena wybranej oferty:
  12305,66

• 
  Oferta z najniższą ceną:
  12305,66
  / Oferta z najwyższą ceną:
  12305,66

• 
  Waluta:
  EUR.

ZAŁĄCZNIK I

Uzasadnienie udzielenia zamówienia w trybie negocjacji bez ogłoszenia, zamówienia z wolnej ręki albo zapytania o cenę

• 
  1. Podstawa prawna
  

  Postępowanie prowadzone jest w trybie zamówienie z wolnej ręki na podstawie art. 67 ust. 1 pkt 1 lit. a ustawy z dnia 29 stycznia 2004r. - Prawo zamówień publicznych.

• 
  2. Uzasadnienia wyboru trybu
  

  Należy podać uzasadnienie faktyczne i prawne wyboru trybu oraz wyjaśnić, dlaczego udzielenie zamówienia jest zgodne z przepisami.

  Zakup części zamiennych do unikatowej aparatury naukowo-badawczej, jedynej tego typu w kraju, może być oferowany tylko przez autoryzowany serwis producenta. Tylko taki przedstawiciel ma dostęp do specyfikacji technicznej unikatowych części produkowanych tylko do konkretnego urządzenia o ściśle określonych parametrach, znanych tylko przez producenta